業界別スペック
- 主要製品
- 材料分析 (MA), 故障解析 (FA), 信頼性試験 (RA), 表面分析 (SA), 物理化学分析 (CA), TEM/FIB試料作製
半導体企業
日本マーテック
日本マーテック / Nihon Martech
🗓 事実の最終確認: 関連記事の更新: 出典: 当サイト企業データベース (一次資料・自社記事の解剖に基づく)
上場
非上場
台湾の上場受託分析企業MA-tek の日本法人で、本社は名古屋市。2008年に大阪で設立され、2019年に名古屋へ移転した。半導体を中心とした材料分析・故障解析・信頼性試験のワンストップ受託サービスを提供し、2023年9月には熊本ラボの運営を開始して半導体工場の生産過程の問題発見・改善を支援している。
Postation の入口
📦 製品・商品 (6)
🛠️ 材料分析 (MA) サービス
各種試験技術により材料の組成・構造・物性を解析する受託サービス。
🛠️ 故障解析 (FA) サービス
科学的手法により製品故障の根本原因を特定する受託解析サービス。
🛠️ 信頼性試験 (RA) サービス
特定条件下で製品が安定動作する能力を評価する試験。Board Level・System Levelの両サービスを提供。
🛠️ 表面分析 (SA) サービス
材料表面の構造・組成・特性を解析する受託サービス。
🛠️ 物理化学分析 (CA) サービス
化学成分の検出・測定を行う受託分析サービス。
🛠️ TEM/FIB試料作製 サービス
電子顕微鏡観察用のTEM/FIB試料準備を受託するサービス。
🧪 技術・サービス (5)
🧪 TEM 技術
透過型電子顕微鏡。材料の微細構造解析に用いる中核装置で、試料作製サービスも提供。
🧪 SEM 技術
走査型電子顕微鏡。表面観察・故障解析に用いる。
🧪 FIB 技術
集束イオンビーム。断面加工・TEM試料作製に用いる。
🧪 SIMS 技術
二次イオン質量分析。材料中の微量元素・不純物の深さ方向分析に用いる。
🧪 EBSD 技術
電子線後方散乱回折。結晶方位解析に用いる。
📋 詳細情報
技術・事業
- 技術概要
- 台湾の受託分析大手MA-tek (Materials Analysis Technology Inc.) の日本法人として、材料分析、故障解析、信頼性試験、表面分析、物理化学分析をワンストップで提供する。分析にはTEM、SEM、FIB、SIMS、EBSDなどの装置・技術を用い、TEM/FIB試料作製サービスも手がける。対象はIC設計・製造・パッケージング、ウェーハファウンドリ、化合物半導体、車載電子機器、AI・高性能コンピューティング分野に及び、信頼性試験ではBoard LevelとSystem Levelの両サービスを提供する。
上場・財務
- 本社
- 愛知県名古屋市
- 創業
- 2008
- 上場ステータス
- 未上場
信用・米制裁
- クレジット
- none
- 銀行信用
- 健全
- 🇺🇸 米制裁
- なし
海外進出
- 資金流出
- なし
📚 信頼性メタデータ
- 信頼度
- 🅲 推定
- 最終確認
- 2026-08-02 00:00:00
- 検証者
- chip-jp-t2-enrich
出典 URL
- https://www.kumamoto-investment.jp/kiji003166/3_166_758_up_p2iqeqqa.pdf
- https://www.kumamoto-investment.jp/kiji003166/index.html
- https://www.jetro.go.jp/invest/newsroom/2024/3c2a950c232684f2.html
- https://www.matek.com/en
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